Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度儀介紹

 Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度儀介紹

泰勒霍普森粗糙度儀技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍：200 um 100 um 10 um
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重復(fù)精度 (Ra) ：1%測(cè)試值+底噪
傳感器原：電感
測(cè)量力：150-300mg
測(cè)針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測(cè)試方式：滑動(dòng)掃描
泰勒霍普森粗糙度儀校準(zhǔn)：
自動(dòng)軟件校準(zhǔn)    標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287
泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)試參數(shù)：
三個(gè)取樣長(zhǎng)度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian
評(píng)定長(zhǎng)度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
大行程：17.5mm
測(cè)試速度：
測(cè)試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)試參數(shù)：
泰勒霍普森粗糙度測(cè)量?jī)x執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量12個(gè)參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量11個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量14個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
泰勒霍普森粗糙度測(cè)量?jī)x測(cè)試單位：um/uin