X熒光射線測厚儀性能優(yōu)勢信息

無損檢測：采用 X 射線熒光技術(shù)，在不破壞樣品的前提下完成厚度測量，這對于一些珍貴樣品或不允許破壞的產(chǎn)品檢測尤為重要。例如，在文物保護(hù)領(lǐng)域，對于古代金屬器物表面鍍層厚度的測量，費(fèi)希爾 X 熒光射線測厚儀能夠在不損傷文物的情況下提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。

測量范圍廣：能夠測量從極薄的鍍層到較厚的材料，元素測量范圍涵蓋從氯（17）到鈾（92），最多可同時(shí)測量 24 種元素、23 層鍍層。無論是簡單的單鍍層結(jié)構(gòu)，還是復(fù)雜的多層合金鍍層，都能準(zhǔn)確測量。

自動(dòng)化程度高：部分型號(hào)如 XDL 240 具備自動(dòng)化的工作臺(tái)移動(dòng)和測量流程控制功能，減少了人為操作誤差，提高了測量效率和準(zhǔn)確性。在工業(yè)生產(chǎn)線上，能夠快速、連續(xù)地對產(chǎn)品進(jìn)行厚度檢測，為生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制提供及時(shí)反饋。