SURTRONIC S116泰勒霍普森

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量范圍：200um100um10um

分辨率：100nm20nm10nm

底噪(Ra)：250nm150nm100nm

重復(fù)精度(Ra)：1%測(cè)試值+底噪

傳感器原：電感

測(cè)量力：150-300mg

測(cè)針針尖半徑：標(biāo)配5μm(200μin)可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測(cè)試方式：滑動(dòng)掃描

泰勒霍普森粗糙度儀校準(zhǔn)：

自動(dòng)軟件校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測(cè)試參數(shù)：

無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)泰勒霍普森粗糙度儀三個(gè)取樣長(zhǎng)度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)泰勒霍普森粗糙度儀二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian

無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)泰勒霍普森粗糙度儀評(píng)定長(zhǎng)度：0.25mm-12.5mm(0.01in-0.49in)可選

大行程：17.5mm

測(cè)試速度：

測(cè)試速度：1mm/sec(0.04in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

測(cè)試參數(shù)：

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1,JIS0601,N31007

ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量12個(gè)參數(shù)：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,Rpc,RSm,Rz1max

ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量11個(gè)參數(shù)：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rdq,RSm,Rpm,Rda

JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量14個(gè)參數(shù)：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,RSm,RzJIS,Rc,Rku,Rdc

其他：R3z(DaimlerBenz)

測(cè)試單位：um/uin