測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

簡要描述：

測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL-210又名X 射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

更新時間：2024-08-05

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

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產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合

測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

菲希爾X射線測厚儀XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

菲希爾X射線測厚儀XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量薄鍍層，例如裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>

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