FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN252特點(diǎn)

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

高性能機(jī)型，具有強(qiáng)大的綜合測量能力

配有4 個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的基本慮片

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析

由下至上的測量方向，可以非常簡便地實(shí)現(xiàn)樣品定位

典型應(yīng)用領(lǐng)域

對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測量

對有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進(jìn)行高精度的分析

用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域

FISCHERSCOPE® XDL®

X射線熒光測試儀，可手動(dòng)或全自動(dòng)測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規(guī)模生產(chǎn)零部件